Ellipsomicroscopy for surface imaging: A novel tool to investigate surface dynamics

نویسندگان
چکیده

برای دانلود باید عضویت طلایی داشته باشید

برای دانلود متن کامل این مقاله و بیش از 32 میلیون مقاله دیگر ابتدا ثبت نام کنید

اگر عضو سایت هستید لطفا وارد حساب کاربری خود شوید

منابع مشابه

A New Guidance Method for Surface to Surface Ballistic Missiles without Mandatory Engine Cut-Off

In this paper, a new guidance method for surface to surface ballistic missiles without mandatory engine cut-off will be presented. The complexity of solid fuel engine cut-off demands a comprehensive method for guiding these missiles. In the method presented in this paper, a certain guidance law is applied such that by transmitting appropriate commands to the control system, by changing the miss...

متن کامل

A New Guidance Method for Surface to Surface Ballistic Missiles without Mandatory Engine Cut-Off

In this paper, a new guidance method for surface to surface ballistic missiles without mandatory engine cut-off will be presented. The complexity of solid fuel engine cut-off demands a comprehensive method for guiding these missiles. In the method presented in this paper, a certain guidance law is applied such that by transmitting appropriate commands to the control system, by changing the miss...

متن کامل

the study of bright and surface discrete cavity solitons dynamics in saturable nonlinear media

امروزه سالیتون ها بعنوان امواج جایگزیده ای که تحت شرایط خاص بدون تغییر شکل در محیط منتشر می-شوند، زمینه مطالعات گسترده ای در حوزه اپتیک غیرخطی هستند. در این راستا توجه به پدیده پراش گسسته، که بعنوان عامل پهن شدگی باریکه نوری در آرایه ای از موجبرهای جفت شده، ظاهر می گردد، ضروری است، زیرا سالیتون های گسسته از خنثی شدن پراش گسسته در این سیستم ها بوسیله عوامل غیرخطی بوجود می آیند. گسستگی سیستم عامل...

The Atomic Force Spectroscopy as a Tool to Investigate Surface Forces: Basic Principles and Applications

Atomic force microscopy (AFM) has been useful to investigate materials performance, processes, physical and surface properties at the nanometer scale. In addition to the standard AFM, which measures surface topography, many accessories have been developed to obtain specific additional information. In this chapter, we shall concentrate on atomic force spectroscopy (AFS), which derived from AFM a...

متن کامل

ذخیره در منابع من


  با ذخیره ی این منبع در منابع من، دسترسی به آن را برای استفاده های بعدی آسان تر کنید

ژورنال

عنوان ژورنال: Journal of Vacuum Science & Technology A: Vacuum, Surfaces, and Films

سال: 1998

ISSN: 0734-2101,1520-8559

DOI: 10.1116/1.581243